Чепайкин Иван Алексеевич (НИЯУ МИФИ (Москва))
|
Статья посвящена анализу рынка гамма-радиографии – методу неразрушающего контроля, принцип работы которого основан на экспонировании контролируемого объекта на пленку в результате воздействия гамма-излучения. Приведена и проанализирована таблица рекомендуемых сценариев использования методов неразрушающего контроля. Проанализирован глобальный и Российский рынки гамма-радиографии. Сформулированы тенденции изменения рынка гамма-радиографии в России и действия, которые необходимо предпринять для развития этого рынка.
Ключевые слова:неразрушающий контроль, гамма-дефектоскоп, гамма-радиография, NDT, ИИИ, дефекты сварных швов.
|
|
|
Читать полный текст статьи …
|
Ссылка для цитирования: Чепайкин И. А. Обзор мирового рынка приборов неразрушающего контроля. Гамма-дефектоскопия // Современная наука: актуальные проблемы теории и практики. Серия: Естественные и Технические Науки. -2016. -№07. -С. 10-16 |
|
|